探傷儀對缺陷方面的顯示方法「小知識」

　　探傷儀常用X射線探傷儀和同位素發(fā)射的γ射線，分別稱為X射線探傷和γ射線探傷。當這些射線穿過一種物質時，該物質的密度越大，射線的強度越弱，也就是說，能穿透該物質的射線的強度越小。這時，如果用攝影膠片來接收，膠片的感光量就會小；如果用儀器接收，得到的信號會很弱。因此當用射線照射被探傷儀損傷的零件時，如果零件中存在氣孔、夾渣等缺點，則射線通過缺點路徑透射的材料密度比沒有缺點的材料密度小得多，其強度減弱較小，即透射強度較大，如果零件被負片接收，則感光度較大，從而可以從負片上反射出垂直于射線方向的缺點的平面投影。如果使用其他接收設備，也可以使用儀器來反射垂直于射線方向的缺點的平面投影和射線透射量。
　　如果超聲頻率高，傳播線性強，在固體中容易傳播，遇到兩種不同介質形成的界面容易反射，可以用于探傷。探頭可以向工件發(fā)射信號，并能接收從界面反射的超聲波，同時將其轉換成其他信號，再傳送到儀器進行處理。根據(jù)超聲波在介質中的傳播速度和傳播時間，可以知道缺點的位置。
　　探傷儀顯示缺陷的方式很多，有的用磁粉顯示，有的不用磁粉顯示。先對該設備有正確的了解，合理的進行治理并且能夠正確的使用才能得出正確結論。如有其它問題，歡迎前來致電。